wandering1
78248a1cdf
前一笔立契约与门禁（`Drivers/BSP/bsp_err.h` + `bsp-err` 钩子 + RS485 试点）；这一笔按用户
指定顺序 C3 → C1 → C2 把三个模块真正收编，并让存储失败第一次变得可读、可分类。
**C3 · SD2506 整模块（11 个公共 API + 6 个内部 helper）**：三枚私有宏 `SD2506_OK`/
`SD2506_ERROR`/`SD2506_I2C_ERROR` **删除而不是留别名**——留别名等于新代码还能用旧形状，
把迁移洗掉；编译器替我们找全所有调用点。新增 `sd2506_err_from_hal()`，**把 I2C 超时从
"和没人应答共用一个 −2"里拆出来归成 `BSP_ERR_TIMEOUT`（可重试）**——SD2506 是启动链第一站、
I2C1 上电时序敏感，这是本波唯一真正的语义改善，不是改名。`sd2506_init` 的 charge 寄存器
**回读校验不符**原返参数类错误，改归 `BSP_ERR_IO`（那不是调用方的错）。
**C1 · 同形两义**：`GD5F_BUSY_TIMEOUT` → `GD5F_WAIT_EXPIRED`（**值 −2 不变**，纯消"名字叫
TIMEOUT 其实是返回码"）。**GD5F 私有码集整体收编刻意没做**：169 处引用里 48 处在板级套件、
还要动 Trap 记录用词，属另一波带真机+套件回归的工作，不夹带。TPAFE5160 收编 23 处：
`BUSY_TIMEOUT → BSP_ERR_TIMEOUT`、`ERROR → BSP_ERR_PARAM`（**同值 −1，行为零变化**）、
`FRSTDATA_ERR → BSP_ERR_NO_DEVICE`（E-44 的本义就是"芯片没驱动 DB 总线"，归到器件无响应比
私有 −3 有用，且避开与 `BSP_ERR_TIMEOUT` 撞值）。实测 `tpafe5160.o`/`gd5f2gq5ue.o` 的 Code
增量为 **0**——改名不产生一条指令。
⚠ **`tpafe5160_snapshot()` 刻意不套成败码**：它是 1=有新帧 / 0=无新帧 / −1=参数错 的三态
**状态**返回，0 不是错误而是"这一拍没有新数据"，强行收编会把慢消费者的正常路径变成失败。
顺带订正我上一版在 `bsp_err.h` 的断言——"本层只有 `net_*` 把数量与错误挤同一返回值"是错的，
`snapshot`/`adc_input_poll` 就是第二族；两族现都已写明并各注保留理由。
**C2 · FTL 坍缩点分类**：`ftl_flush_cache`/`ftl_read_page` 不再把 dhara 失败压成
`GD5F_ERROR`，
按**处置差异**分三类，并在最早同时知道 LPN 与原始码的位置就地打印：`ECC`/`TOO_BAD` →
`BSP_ERR_CRC`（页级，重试或换页，不代表卷坏）；`JOURNAL_FULL`/`MAP_FULL` →
`BSP_ERR_NO_SPACE`（介质健康但块池/日志见底，此时重格式化只是把问题推回去）；
`BAD_BLOCK`/`RECOVER`/`CORRUPT_MAP`/越界 → `BSP_ERR_IO`（完整性故障，保卷 + 上报，不许自愈
重格式化）。这与 **E-31** 是同一条纪律的两端。可读名用自建短表：**本仓 dhara 没有编
`error.c`，用 `dhara_strerror()` 会直接链接失败**。`disk_read`/`disk_write` 仍回
`RES_ERROR`
（FatFs 契约）；要让 defaultTask 卷健康探针按类分支还差跨调用存活的快照 → C4 待还。
**两次靠核实拦住的自我错误**：① 我一度认定 `DBG_ERROR("... err=%d", err)` 是把结构体塞进
varargs 的格式 bug——核 `Lib/dhara/error.h` 后确认 `dhara_error_t` 是 `enum`（标量），那行日志
本来合法，改了反而是引入错误；② `bsp-err` 一次 `replace_all` 越界把 8 处 **GD5F 码空间**的
判据改成 `!= BSP_OK`（数值同为 0、无行为变化），但那正是"把两个码空间混起来"，已逐一还原。
`cppcheck` 亦抓到 `cls` 声明作用域过宽，已收进失败分支。
**验证**：`@build` 0 错 0 警告（`Code` 213,648、RO 18,860、`ER_IROM1` 232,508 B /
22.2%、
`ROM 合计` 233,696；**RAM 三项零增量**）；`@test` PASS（692 ms，烧入戳 `Oct 23 01:35:32`）
且逐条读到被改模块的锚点：`SD2506 init: OK (ret=0)` 与 ID/时间/温度/电池四条读回正常、
`ADC init: OK`、`NAND init: OK`、`Map resumed: 14094/97504`、`adc=` 帧计数持续递增（证明
snapshot 三态未被改坏）、`[ERR]`/Fault/FAIL 0 条。主机单测：系统时钟 100/100、dhara NAND
移植层 149/149（两者都因本次改动需补 `Drivers/BSP` include 路径，补后在钩子内实跑 Passed）。
`pre-commit run` 全量 RC=0（20 个实跑钩子 Passed）；`bsp-err` 基线 **19 → 17**（还掉两个
`*_BUSY_TIMEOUT = -2`）、`--prune` 干净；`doc-links --all --sections-strict` 147 篇
0 问题；
`id-check --strict`、`layer-deps`、`mem-numbers`、`mem-budget`、`ui-golden` 全过；33
个文件
字节卫生 0 异常（无 CR / 无 U+FFFD / 无行尾空格 / 均有尾换行）。
**口径与数字联动**：新增 `docs/架构设计/STM32F4-Base存储架构说明.md` §10.4（三类码与处置
理由）；`pre-commit使用说明.md` §2.27 与 `AGENTS.md` 基线计数 19 → 17；TPAFE README、
GD5F 测试指南与 Trap 记录均**保留旧名留痕**以便对旧日志；配图桶按 .map 对象级增量重算
（`dhara/FTL` 10,931 → 11,222，+291 全部落在 `nand_ftl.o`；应用代码/UI +36 落在
`app_main.o`；其余散量入"其他"7,557；桶和 = Code+RO 断言通过、文本溢出 0）；
`ram_baseline --update/--write`、`ram_report_20261023.md` 快照、报告 §1.3/§5.1/§5.4
与
部署文档 §3.3 数字全部同步；报告 §0.4/§9 的 S-5 状态改为 🟡 主体已落地。
275 lines
11 KiB
C
275 lines
11 KiB
C
/******************************************************************************
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||
* 模块名称：SD2506 RTC Test Suite
|
||
* 模块功能：SD2506API-G RTC 驱动功能自测（黑盒，仅用公共 API）。
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||
*
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* 历史背景：本驱动曾出现"时间写不进"问题，根因是 sd2506.h 中寄存器宏写成
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||
* "0x0FH"（H 后缀）。KEIL/ARMCC 不识别 H 整数后缀，将其编译为 0，
|
||
* 导致 SD2506_REG_CTR1 实际等于 0（秒寄存器），sd2506_write_enable()
|
||
* 把 WRTC 写到了错误寄存器，写保护永不解除。修正为 "0x0FU" 后恢复。
|
||
* 详见 docs/问题记录/SD2506_Trap_Records.md。
|
||
*
|
||
* 当前测试：Phase 1 基本读写（init / 读 / 写 / 回读一致 / 走时），
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||
* 结束后自动恢复板子原始时间。
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||
* 入口：sd2506_test_run()（由 start_test_task 经 TEST_SUITE_RTC 调度）
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||
* 创建日期：2026-08-28
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||
******************************************************************************/
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||
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||
#include <string.h>
|
||
#include <stdint.h>
|
||
#include "sd2506_test.h"
|
||
#include "test_config.h"
|
||
#include "cmsis_os.h"
|
||
#include "sd2506.h"
|
||
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||
#define DBG_TAG "[RTC_TEST]"
|
||
#include "dbg_log.h"
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||
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||
#ifdef TEST_SUITE_RTC
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||
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||
/* 全局测试统计（宏自动管理） */
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||
sd2506_test_stats_t g_sd2506_test_stats;
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||
|
||
/* ===================== Phase 1：基本读写 ===================== */
|
||
#ifdef ENABLE_RTC_BASIC_TESTS
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||
static void sd2506_phase_basic(void)
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||
{
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||
DBG_INFO("=== SD2506 Phase 1: basic read/write (public API) ===");
|
||
|
||
/* TC-RTC-001: init + 读取当前时间 */
|
||
bsp_err_t ret = sd2506_init();
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
|
||
sd2506_time_t r;
|
||
ret = sd2506_get_time(&r);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_time() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" current RTC: %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u wk=%u",
|
||
(unsigned int)r.year, (unsigned int)r.month, (unsigned int)r.day,
|
||
(unsigned int)r.hour, (unsigned int)r.minute,
|
||
(unsigned int)r.second, (unsigned int)r.week);
|
||
}
|
||
|
||
/* TC-RTC-002: 写固定时间，立即回读比对（破坏性：改设备 RTC 时间，套件结束会复原）。
|
||
* 若 FAIL -> 先查 sd2506.h 寄存器宏后缀是否为 H（曾因 0x0FH 被 KEIL 编译为 0
|
||
* 导致 SD2506_REG_CTR1 指向秒寄存器、WRTC 写错地址）。详见 docs/问题记录/SD2506_Trap_Records.md。 */
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
{
|
||
sd2506_time_t t;
|
||
int match;
|
||
|
||
t.year = 2026; t.month = 8; t.day = 28; t.hour = 12; t.minute = 0; t.second = 0; t.week = 4;
|
||
ret = sd2506_set_time(&t);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_set_time() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
|
||
ret = sd2506_get_time(&r);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_time() after set ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" set : %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u",
|
||
(unsigned int)t.year, (unsigned int)t.month, (unsigned int)t.day,
|
||
(unsigned int)t.hour, (unsigned int)t.minute, (unsigned int)t.second);
|
||
DBG_INFO(" readback: %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u",
|
||
(unsigned int)r.year, (unsigned int)r.month, (unsigned int)r.day,
|
||
(unsigned int)r.hour, (unsigned int)r.minute, (unsigned int)r.second);
|
||
}
|
||
match = (r.year == t.year && r.month == t.month && r.day == t.day &&
|
||
r.hour == t.hour && r.minute == t.minute &&
|
||
(r.second == t.second || r.second == ((t.second + 1U) % 60U)));
|
||
SD2506_TEST_CHECK(match, "set==readback (in-session write takes effect)");
|
||
}
|
||
#else
|
||
DBG_INFO("TC-RTC-002 skipped: destructive tests disabled (RTC time write)");
|
||
#endif
|
||
|
||
/* TC-RTC-003: 走时。写后等 3s，应前进约 3 秒 */
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
osDelay(3000);
|
||
sd2506_time_t r2;
|
||
bsp_err_t ret2 = sd2506_get_time(&r2);
|
||
if (ret2 == BSP_OK) {
|
||
int adv = (r2.second + 60 * (r2.minute + 60 * (r2.hour + 24 * r2.day)))
|
||
- (r.second + 60 * (r.minute + 60 * (r.hour + 24 * r.day)));
|
||
if (adv < 0) adv += 60 * 60 * 24 * 32;
|
||
DBG_INFO(" 3s later: %04u-%02u-%02u %02u:%02u:%02u (advanced %d s)",
|
||
(unsigned int)r2.year, (unsigned int)r2.month, (unsigned int)r2.day,
|
||
(unsigned int)r2.hour, (unsigned int)r2.minute, (unsigned int)r2.second, adv);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(adv >= 2 && adv <= 5, "RTC ticking forward (~3s)");
|
||
}
|
||
}
|
||
|
||
SD2506_TEST_REPORT("Phase 1 basic");
|
||
}
|
||
#endif /* ENABLE_RTC_BASIC_TESTS */
|
||
|
||
/* ===================== Phase 2：全功能 API 覆盖 ===================== */
|
||
#ifdef ENABLE_RTC_API_TESTS
|
||
static void sd2506_phase_api(void)
|
||
{
|
||
DBG_INFO("=== SD2506 Phase 2: full API coverage ===");
|
||
|
||
/* TC-RTC-010: BCD<->DEC 互转（纯算法，确定性，无需硬件交互） */
|
||
int conv_ok = 1;
|
||
uint8_t samples[][2] = {
|
||
{0, 0x00U}, {1, 0x01U}, {9, 0x09U}, {10, 0x10U}, {23, 0x23U},
|
||
{59, 0x59U}, {60, 0x60U}, {99, 0x99U}, {42, 0x42U}, {88, 0x88U}
|
||
};
|
||
for (uint32_t i = 0U; i < (sizeof(samples) / sizeof(samples[0])); i++) {
|
||
uint8_t dec = samples[i][0];
|
||
uint8_t bcd = samples[i][1];
|
||
if (sd2506_dec_to_bcd(dec) != bcd) {
|
||
conv_ok = 0;
|
||
DBG_ERROR(" dec_to_bcd(%u) != 0x%02X", (unsigned int)dec, (unsigned int)bcd);
|
||
}
|
||
if (sd2506_bcd_to_dec(bcd) != dec) {
|
||
conv_ok = 0;
|
||
DBG_ERROR(" bcd_to_dec(0x%02X) != %u", (unsigned int)bcd, (unsigned int)dec);
|
||
}
|
||
}
|
||
SD2506_TEST_CHECK(conv_ok, "bcd<->dec round-trip (10 samples)");
|
||
|
||
/* TC-RTC-011: 内部温度读取 */
|
||
int8_t temp = 0;
|
||
bsp_err_t ret = sd2506_get_temperature(&temp);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_temperature() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" temperature: %d C", (int)temp);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(temp >= -40 && temp <= 85,
|
||
"temperature in range [-40,85]: %d", (int)temp);
|
||
}
|
||
|
||
/* TC-RTC-012: 电池电压（毫伏） */
|
||
uint16_t volt = 0U;
|
||
ret = sd2506_get_battery_voltage(&volt);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_battery_voltage() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" battery: %u mV", (unsigned int)volt);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(volt > 2000U && volt < 5000U,
|
||
"battery voltage plausible: %u mV", (unsigned int)volt);
|
||
}
|
||
|
||
/* TC-RTC-013: 芯片 8 字节 ID */
|
||
uint8_t id[8] = {0};
|
||
ret = sd2506_get_id(id);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_get_id() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" id: %02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X%02X",
|
||
id[0], id[1], id[2], id[3], id[4], id[5], id[6], id[7]);
|
||
}
|
||
|
||
/* TC-RTC-014: 用户 SRAM 读写回环（addr=0, len=8；破坏性：写芯片 SRAM） */
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
{
|
||
uint8_t wbuf[8] = {0xA1U, 0xB2U, 0xC3U, 0xD4U, 0xE5U, 0xF6U, 0x07U, 0x18U};
|
||
uint8_t rbuf[8] = {0};
|
||
ret = sd2506_write_sram(0U, wbuf, 8U);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_write_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
if (ret == BSP_OK) {
|
||
ret = sd2506_read_sram(0U, rbuf, 8U);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_read_sram() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
int sram_ok = (memcmp(wbuf, rbuf, 8U) == 0);
|
||
SD2506_TEST_CHECK(sram_ok, "SRAM write==readback");
|
||
}
|
||
}
|
||
#else
|
||
DBG_INFO("TC-RTC-014 skipped: destructive tests disabled (RTC SRAM write)");
|
||
#endif
|
||
|
||
/* TC-RTC-015: 报警设置 + 清除（破坏性：写报警寄存器；验证 API 通路，不影响时间寄存器） */
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
{
|
||
sd2506_time_t at;
|
||
at.year = 2026; at.month = 8; at.day = 28; at.hour = 12; at.minute = 0; at.second = 30; at.week = 4;
|
||
ret = sd2506_set_alarm(&at, (uint8_t)(SD2506_AL_EN_EAS | SD2506_AL_EN_EAMN));
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_set_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
ret = sd2506_clear_alarm();
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_clear_alarm() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
}
|
||
#else
|
||
DBG_INFO("TC-RTC-015 skipped: destructive tests disabled (RTC alarm write)");
|
||
#endif
|
||
|
||
SD2506_TEST_REPORT("Phase 2 API");
|
||
}
|
||
#endif /* ENABLE_RTC_API_TESTS */
|
||
|
||
/* ===================== 套件入口 ===================== */
|
||
void sd2506_test_run(void)
|
||
{
|
||
DBG_INFO("SD2506 test suite started");
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
DBG_INFO("mode: DESTRUCTIVE (RTC time / SRAM / alarm writes enabled)");
|
||
#else
|
||
DBG_INFO("mode: READ-ONLY (destructive cases skipped; set "
|
||
"ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS in test_config.h to run them)");
|
||
#endif
|
||
|
||
bsp_err_t ret = sd2506_init();
|
||
SD2506_TEST_CHECK(ret == BSP_OK, "sd2506_init() ret=%d (expect 0)", ret);
|
||
|
||
/* 信息：读取 CTR1 默认状态（确认 WRTC 初始/可写能力，纯诊断） */
|
||
uint8_t c1 = 0x00U;
|
||
if (sd2506_read_ctr1(&c1) == BSP_OK) {
|
||
DBG_INFO(" CTR1=0x%02X (WRTC2=CTR1.2=%u WRTC3=CTR1.7=%u)",
|
||
(unsigned int)c1,
|
||
(unsigned int)((c1 >> 2) & 1U),
|
||
(unsigned int)((c1 >> 7) & 1U));
|
||
}
|
||
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
/* 记录原始时间，测试结束恢复，避免把板子时间留在测试值 */
|
||
sd2506_time_t orig;
|
||
int have_orig = (sd2506_get_time(&orig) == BSP_OK);
|
||
if (!have_orig) {
|
||
DBG_INFO(" WARN: cannot read original time; restore step will be skipped");
|
||
}
|
||
#endif
|
||
|
||
/* 套件级累计：每个 Phase 进入前自清零，阶段结束后把本阶段结果累加进来。
|
||
* 目的有二：
|
||
* 1) 各 Phase 的 `=== Phase N ... ===` 汇总行只反映"本阶段"的断言数，
|
||
* 不再出现"Phase 2 显示的是含 Phase 1 的累计值"这种易误读输出；
|
||
* 2) 末尾输出套件级 `=== RTC Tests: N/M PASSED (failed=0) ===` 汇总行——
|
||
* 它是 run_all_suites.py --require-suite-summary 的判定标记
|
||
* （见 test_common.h / docs/测试说明/测试开发标准流程.md §3.2）。 */
|
||
uint16_t suite_total = 0U;
|
||
uint16_t suite_passed = 0U;
|
||
uint16_t suite_failed = 0U;
|
||
|
||
#ifdef ENABLE_RTC_BASIC_TESTS
|
||
memset(&g_sd2506_test_stats, 0, sizeof(g_sd2506_test_stats));
|
||
sd2506_phase_basic();
|
||
suite_total += g_sd2506_test_stats.total;
|
||
suite_passed += g_sd2506_test_stats.passed;
|
||
suite_failed += g_sd2506_test_stats.failed;
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef ENABLE_RTC_API_TESTS
|
||
memset(&g_sd2506_test_stats, 0, sizeof(g_sd2506_test_stats));
|
||
sd2506_phase_api();
|
||
suite_total += g_sd2506_test_stats.total;
|
||
suite_passed += g_sd2506_test_stats.passed;
|
||
suite_failed += g_sd2506_test_stats.failed;
|
||
#endif
|
||
|
||
#ifdef ENABLE_DESTRUCTIVE_TESTS
|
||
/* 恢复原始时间（用公共 API，写保护逻辑已由 sd2506.c 正确处理） */
|
||
if (have_orig) {
|
||
int r = sd2506_set_time(&orig);
|
||
DBG_INFO(" restored original time (ret=%d)", r);
|
||
}
|
||
#endif
|
||
|
||
/* 套件级汇总行：名称固定 "RTC Tests"，与 run_all_suites.py 的
|
||
* --require-suite-summary 约定一致。复用公共报告宏，保证格式统一。 */
|
||
g_sd2506_test_stats.total = suite_total;
|
||
g_sd2506_test_stats.passed = suite_passed;
|
||
g_sd2506_test_stats.failed = suite_failed;
|
||
SD2506_TEST_REPORT("RTC Tests");
|
||
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DBG_INFO("SD2506 test suite done");
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for (;;) {
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osDelay(1000);
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}
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}
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#endif /* TEST_SUITE_RTC */
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