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新增 App/algo/adc_input.c/h（L1 采集与预处理层，落实 L1-3/L1-4）：
- L1-4 语义通道映射表 k_adc_map[]：UA/UN/IA → TPAFE buf[6]/[5]/[2]；
UB/UC/IB/IC/IN/TEMP → STM32 ADC1 CH14/3/6/1/2/5。消费侧一律经
adc_input_raw() 按语义取数，不写死下标（V0.2 改版只改表内容）。
- L1-3 STM32 ADC1 9 通道软件触发顺序扫描：HAL_ADC_Start + 逐通道
PollForConversion/GetValue（EOC_SINGLE_CONV + 无 DMA，可逐通道轮询）。
- adc_input_poll() 统一"TPAFE 原子快照 + STM32 扫描"；
adc_input_init() 做映射自检（STM32 映射通道必落在扫描序列内，否则
返回 -1），挡住"映射到不扫描的通道 → 恒读陈旧值"的静默错。
集成：
- adc_task.c 取数改走 L1 层（首帧日志补全 8 路 + 温度；心跳增
adc1_rc/adc1_err 观测 STM32 侧健康度）。
- app_main.c 在 tpafe5160_init() 之后调 adc_input_init()，失败记
SYSLOG_SELFTEST("ADC map fault")。
- Keil 工程挂 adc_input.c 并加 ../App/algo 包含路径。
- 文档同步：继电保护规划 §1.2/§3.1（L1-3/L1-4 改 ✅）、ADC通道映射说明
§7/§8/§9、产品需求 §5.9/§9、架构总览 §7、AGENTS.md、App/README.md、
App/task/README.md、新增 App/algo/README.md、boot_log_data 清单。
验证：
- @build 0 错 0 警；镜像无源文件新于 hex。
- 台架 @test PASS：ADC input layer init OK、adc1_rc=0/adc1_err=0
（30 s ≈27 万次转换零超时）、seq 仍 1000.0 Hz、adc 栈峰值
528→584 B（余 71%）、回读一致、零 [ERR]/HardFault。
证据 docs/测试说明/boot_log_data/20261010_prod_adc_l1_boot_log.txt
- 内存快照已刷新（Flash 269,404→270,712 B）。
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# App/algo/ — 采集与算法层（L1 / L2）
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> **自研代码**，属 `docs/算法/继电保护功能复现规划.md` §2.1 分层中的 **L1（采集与预处理）**
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> 与 **L2（相量计算，拟）**。原则：**算法与 I/O 分离**——本层不碰寄存器、不碰任务调度，
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> 只做"数"（码值 → 工程量）与"相量"（工程量 → 复相量），从而可成为主机侧单元测试
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> （L0.5）的天然适格对象（落实登记簿 **A-4**）。
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## 现有模块
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| 文件 | 层 | 职责 |
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|---|---|---|
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| `adc_input.c/h` | L1 | **ADC 输入层**：① **语义通道映射**（L1-4）——`UA/UB/UC/UN/IA/IB/IC/IN/温度` → 物理通道，消费侧**按语义取数、不写死下标**；② **STM32 ADC1 9 通道软件触发顺序扫描**（L1-3）；③ TPAFE5160 原子快照消费 |
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## 关键约定
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- **语义映射的唯一权威口径**是 `docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md`（V0.1 有 13/17 路被置换，
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网名编号 ≠ 通道号）。V0.1 上 8 路电气量分属两片转换器（硬件缺陷 **N-18**）：`UA/UN/IA`
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在 TPAFE5160、`UB/UC/IB/IC/IN` 在 STM32 ADC1。**V0.2 改版只改映射表内容**，本层 API
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与上层语义不动。
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- **取数一律经 `adc_input_raw()`**（按语义），禁止在消费侧直接索引驱动缓冲或写死下标。
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- 本层**不做**跨转换器的相位 / 功率 / 功率因数 / 矢量类运算（V0.1 硬件缺陷 N-18 限制）。
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## 相关文档
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- 通道映射权威口径：`docs/硬件平台/ADC通道映射说明.md`
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- 分层与路线图：`docs/算法/继电保护功能复现规划.md`（§2.1 分层、§3.1 L1 清单）
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- 采样节拍：`docs/子系统设计/ADC采样节拍设计说明.md`
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