wandering1
2055de0303
背景：L0.5 主机侧单测落地后复审测试架构，给出 6 条改进意见（P0~P3）， 登记进 docs/待处理内容.md「测试与验证基础设施」后逐条实施。 - T-1(P0) 测试套件开关门禁：新增 scripts/check_test_suite.py + pre-commit 钩子 test-suite-switch，默认要求产品构建（全部 TEST_SUITE_* 注释），跑套件回归用 --allow-test-build / ALLOW_TEST_BUILD=1 显式放行。顺带把 test_config.h 中长期 开启的 TEST_SUITE_CH395F 改回注释（仓库此前躺着的是测试固件）。 - T-2(P1) verify_log.py 增加 --require-suite-summary：要求 "=== <名称>: N/M PASSED (failed=0) ===" 且 N>0，堵住"套件没跑到汇总行/ 断言数为 0 仍判 PASS"的盲区；run_boot_test.py 同名参数透传。不传参向后兼容。 - T-3(P1) 抽取通用 harness test/host/common/unit_test_harness.py（工具链探测/ INCLUDE-LIB 拼接/wd4819/GBK 解码/退出码契约）；watchdog 运行器 170→55 行，只声明 TestBuild。 - T-4(P2) 新增 test/board/test_common.h 集中断言内核（TEST_CHECK_IMPL/TEST_REPORT_IMPL）， 4 套件各用一行宏绑定自身统计变量（保持 g_xxx_stats 独立、防跨套件串数）。 刻意不 include dbg_log.h——否则冻结 DBG_TAG 默认值触发 #47-D 重定义警告。 - T-5(P2) 新增 test/run_all_suites.py 多套件回归编排，try/finally 无条件还原套件开关。 验证：@build 产品构建 0 错 0 警；4 套件逐一构建均 0/0；看门狗单测 39/39 PASS； pre-commit 14 钩子全通过；编排脚本 dry-run/开关切换/异常还原均实测通过。
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C
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/*
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* 模块名称：GD5F2GQ5UE Driver Test Suite
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* 模块功能：GD5F2GQ5UE SPI NAND Flash 驱动测试入口，按阶段组织测试用例，
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* 覆盖 gd5f2gq5ue.c 全部公开/私有函数，并延伸到 FTL（nand_ftl）与
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* FatFS diskio。详见 docs/测试说明/GD5F2GQ5UE_Test_Guide.md。
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* 适用平台：STM32F4 系列（GD5F2GQ5UE SPI NAND）
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* 作者：王建锋
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* 创建日期：2026-08-26
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* === 测试阶段一览（与指南 TC 一一对应）===
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* Phase | 描述
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* Phase 1 | 初始化与 ID 识别（init / read_id / reset）
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* Phase 2 | 坏块管理（BBT：scan / is_block_bad / mark+clear / rescan）
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* Phase 3 | 页读写（跨页 / 非对齐 / 多页 / 单字节）
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* Phase 4 | 块擦除（单块 / 多块 / 非对齐负向 / 擦写读闭环）
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* Phase 5 | ECC 验证（开启下写读 / check_ecc）
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* Phase 6 | SPI 原语（page_read / program_load+exec / block_erase / write_enable / wait_busy）
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* Phase 7 | DMA 边界（阈值 32/33/整页）
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* Phase 8 | FTL 层（nand_ftl_init / nand_ftl_format）
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* Phase 9 | FatFS diskio（可选）
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* Phase 10 | 边界条件（offset 越界 / size=0 / 未擦除写入 / 写保护解除）
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* Phase 11 | 13h 锁存 / WIP 提前清零对照复现（编程擦除风暴 + 立即读比对，2026-09-21）
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*/
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#ifndef GD5F_TEST_H
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#define GD5F_TEST_H
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#ifdef __cplusplus
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extern "C" {
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#endif
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#include <stdint.h>
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#include "test_common.h"
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#include "gd5f2gq5ue.h"
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/* ======================== 阶段使能开关 ======================== */
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/* 取消注释对应阶段即可启用；总开关 ENABLE_GD5F_TESTS 控制是否编译并运行测试。
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* 启用后，defaultTask 中的常规 FTL/FatFS 存储测试会被跳过（独占 NAND）。
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* 注意：测试会擦除/写入若干块，且 Phase 8/9 会格式化 FTL/FatFS，仅用于测试构建。 */
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//#define ENABLE_GD5F_TESTS /* 总开关（由 test_config.h 的 TEST_SUITE_GD5F 自动开启） */
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE1_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE2_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE3_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE4_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE5_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE6_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE7_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE8_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE9_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE10_TESTS
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//#define ENABLE_GD5F_PHASE11_TESTS /* 13h 锁存复现（仅擦写最高一块，独立门控，可随时启用） */
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/* ======================== 测试统计与断言 ======================== */
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typedef test_stats_t gd5f_test_stats_t;
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extern gd5f_test_stats_t g_gd5f_test_stats;
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#define GD5F_TEST_CHECK(cond, fmt, ...) \
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TEST_CHECK_IMPL(g_gd5f_test_stats, cond, fmt, ##__VA_ARGS__)
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#define GD5F_TEST_REPORT(name) TEST_REPORT_IMPL(g_gd5f_test_stats, name)
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#if defined(ENABLE_GD5F_TESTS)
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void gd5f_test_run(void);
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#else
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#define gd5f_test_run() ((void)0)
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#endif
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#ifdef __cplusplus
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}
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#endif
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#endif /* GD5F_TEST_H */
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