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STM32F4-Base/test
wandering1 dd8210867a adc_input: 失败拍清 s_stm32_valid,杜绝超时沿用上一拍旧值(单测 70->79)
缺陷(真机实测发现):本层只有一份 s_stm32_raw[],有效标志此前只在成功时
置 1、失败时从不清零 -> 超时拍消费侧照样取数、照样压入采样环(且超时前
几个 Rank 已写本拍新值、后面几个是上一拍旧值 = 半新半旧混合帧),直接污
染 20 点 DFT 相量窗;adc_input_poll() 返回值只由 TPAFE 决定,s_frames_skip
也抓不到它。

修复:stm32_scan() 两条失败支路(HAL_ADC_Start 失败 / 轮询超时)都清
s_stm32_valid -> 本拍 adc_input_raw() 对 STM32 语义通道返 -2 -> adc_task
走既有 skip 整帧跳过路径;下一拍扫描成功自动置回 1(自愈)。

测试:新增 TC-AI-070..078(70 -> 79 用例)。旧用例 TC-AI-034/039b 都是
init 后立刻失败(valid 本就是 0),照不出成功过之后再失败这条路径,故新
用例先成功一拍进入有效态再注入失败。**反向验证已做**:把支路改回旧行为 ->
TC-AI-039b/073/074 立即 FAIL(76/79),证明用例有效。

验证:主机单测 79/79 PASS;@build 0 错 0 警(Code 256868 -> 256872);
@test PASS(本轮无超时:adc1_err=0、skip=0、idle=0、frames=20001);
18 钩子全绿。文档同步 4 处(停摆分析 4.4 / ADC采样节拍 10.4 / ADC输入层
单测说明 / test-host README)。

遗留:2 ms 忙等本身未消(硬化 2 = DMA,方案 B2 待 CubeMX 配置)。
2026-10-10 23:08:01 +08:00
..

test/ — 测试代码与主机端脚本

测试分两部分,物理隔离在两个子目录:

  • board/ —— 板端测试套件(.c/.h,编入固件由 testTask 执行)
  • host/ —— 主机端脚本(.py,PC 侧驱动板子并判读结果)

目录结构

目录 内容 README
board/ 板端测试套件(编入 Keil 工程,占 RAM) board/README.md
host/ PC 端测试/判读脚本(Python) host/README.md
run_all_suites.py 多套件回归编排(改宏 → 构建 → 烧录 → 采集,try/finally 保证还原开关);--check-build = 只编译不烧录(纯离机) 本文 §多套件回归

运行方式

# @test 一键闭环(推荐)
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/run_boot_test.py

# 单独校验日志
& '.venv\Scripts\python.exe' .dsh/skills/serial-boot-test/scripts/verify_log.py <日志文件>

# 多套件回归编排(需真机;自动改开关 + 构建 + 烧录 + 采集,结束后还原)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --suites STORAGE,GD5F
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --dry-run      # 只看计划

# 只编译不烧录(S6;不需要 MCU / 串口 / ST-LINK,验证 4 套件可编译性)
& '.venv\Scripts\python.exe' test/run_all_suites.py --check-build

退出码约定:0=PASS / 1=FAIL / 2=采集或烧录错误 / 3=用法或预检错误。

多套件回归(run_all_suites.py)

套件互斥(编译期 #error)意味着跑 4 个套件要手工循环 4 轮。本脚本把它编排成一条 命令,并且无条件还原 test_config.h——跑完忘还原 = 测试固件进库,这是它存在的 核心理由(与提交期门禁 test-suite-switch 互为独立防线)。

⚠️ 每轮要真机烧录 + 采集,4 套件约数分钟起;破坏性套件还会改设备持久状态。 仅回归窗口用,绝不挂 pre-commit。

--check-build 则相反:只改宏 + @build,不烧录不采集,无需任何硬件,用于防止 "测试套件长期编不过而无人知"(2026-08~09 CH395F 套件实例)。改动 test/board/ 下测试 代码后建议先跑它——实测 4 套件均 BUILD_OK: 0 errors, 0 warnings。

⚠️ 注意

  • 本目录被 pre-commit 门禁排除(测试代码不受 C 规范约束)
  • board/ 套件占用 RAM,启用前先核算预算(见 docs/内存管理/)
  • Keil 工程已同步:board/ 下 7 个 .c 编入 MDK-ARM/STM32F4-Demo.uvprojx, IncludePath 含 ../test/board;移动文件须同步改工程文件
  • 套件选择开关:board/test_config.h 的 TEST_SUITE_*(互斥,一次只启用一个)
  • 测试缓冲用分 Phase 复用静态缓冲(避免 L6406E 溢出)

相关文档

  • docs/测试说明/测试开发标准流程.md — L0~L3 分层与门禁决策表
  • docs/测试说明/自动化测试流程.md — @test 细节与失败模式
  • 各模块测试指南:docs/测试说明/*_Test_Guide.md
  • docs/测试说明/链路延迟测试说明.md